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玉米考種分析系統實粒種子整穗截面分析儀是根據圖像識別原理來實現自動分析的。可用于玉米實粒種子的精確考種、對玉米的籽粒、果穗、截面分析。同時可兼做水稻、小麥、油菜、豆類、花生、芝麻等作物考種分析。

考種分析儀恒美可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。

千粒重儀可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。

恒美考種系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。

恒美玉米考種分析系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。

自動考種分析儀及千粒重系統可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型（包括長、寬、長寬比、周長、面積），利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。